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电子探针EPMA-1720系列
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EPMA-8050G电子探针显微分析仪
空间分辨率的同时,又可减小样品对X射线的吸收,实现高灵敏度的分析。 产品简介 岛津场发射电子探针EPMA-8050G 开创新纪元 ——卓越的空间分辨率与超高灵敏度的
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岛津场发射电子探针EPMA-8050G
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JXA-iSP100 电子探针显微分析仪
电子探针显微分析仪在钢铁、汽车、电子零件和电池材料等各种工业领域,作为研究开发和品质保证的分析工具被广泛使用,其用途越来越广。此外,在学术领域 ,地球空间科学、材料科学领域也在广泛使用,矿物等
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JXA-iSP200电子探针显微分析仪
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JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪
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电子探针显微分析仪(EPMA)
特点:岛津电子探针EPMA-1720系列优势在于传承52.5°的高X射线取出角技术,可以进行高灵敏度的X射线测定。高速稳定驱动的样品台,可以高精度设定分析位置和分析区域。配备各种自动功能和联动功能
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电子探针显微分析仪(EPMA)
特点:岛津电子探针EPMA-1720系列优势在于传承52.5°的高X射线取出角技术,可以进行高灵敏度的X射线测定。高速稳定驱动的样品台,可以高精度设定分析位置和分析区域。配备各种自动功能和联动功能
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SPM-9700HT粒度分析软件(选配)
粒度分析软件(选配)颗粒分析软件是在SPM-9700HT的图像数据中选取颗粒,针对每个颗粒计算其特征量,同时进行分析、显示以及统计时使用的软件。能够对以下丰富的特征量和计算出的各特征量的统计数据进行
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SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑
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